会社情報

ホーム / 会社情報 / 展示会情報 / 第12回自動認識総合展 出展報告

展示会情報

第12回自動認識総合展 出展報告

株式会社マーステクノサイエンスは、2010年9月15日(水)~17日(金)東京国際展示場[東京ビッグサイト]にて開催されました「第12回自動認識総合展」に出展いたしました。 おかげさまをもちまして盛況のうちに終了する事ができました。 ご来場いただいたお客様には心より御礼申し上げます。当社ブースの画像を交えてご報告いたします。

当社出展ブース画像

※画像クリックで拡大表示します。

当社ブース画像 当社ブース画像 当社ブース画像 メイン展示「作業実績管理」 入荷検品デモ 作業開始登録デモ 生産実績管理デモ 生産実績管理デモ 出荷検品デモ リライト診察券、ポイントサービスデモ TagBeeデモ 当社ブース画像 TagBeeグラフィックシート 当社ブース画像 当社ブース画像
第12回自動認識総合展  

展示会概要

名称:
第12回自動認識総合展
>>第12回自動認識総合展オフィシャルサイト
期間:
2010年9月15日(水)、16日(木)、17日(金)10:00-17:00(3日間共)
場所:
東京ビッグサイト[東京国際展示場]東展示棟 1ホール(東京都江東区有明3-21-1)
当社ブース:
P-2

出展内容

今回の「第12回自動認識総合展」への出展にあたりましては、新製品とシステムソリューションの展示に加え、共同出展する株式会社東研の2次元バーコード製品と、当社のRFID製品を組み合わせた製造業向け現場ソリューションのデモ展示を行いました。

また、共同展示する株式会社東研はハイブリット2次元コードリーダ『RF-ID+2次元コード+ワイヤレス・ハンドスキャナ』を始め、『高速・小型固定式スキャナ』 ・『コストパフォーマンスに優れたハンディターミナル』 ・『装置組込み用2次元コードスキャナ』・『バーコードプリンタ』 ・『検証機』などを出展されました。

第12回「自動認識システム大賞 (フジサンケイビジネスアイ賞)」を受賞

「『子供たちの安全を守る』一元サーバに依らない通達システム」が 第12回「自動認識システム大賞(フジサンケイビジネスアイ賞)」を受賞いたしました。
9月15日、東京・有明ビックサイトで開催されました第12回自動認識総合展の レセプション会場において表彰式が行われました。

株式会社東研との共同出展について

マースグループと株式会社東研は、相互の事業拡大と企業力強化を目的とし、業務及び資本提携を行いました。マースグループのRFID技術と株式会社東研のバーコード技術を融合することにより、自動認識分野における商材の拡大や販売チャネルの相互活用に努めてまいります。

>>株式会社東研WEBサイト



お問い合わせ